Mentor与Arm合作使用三星FDSOI技术开发独特的eMRAM测试解决方案

       西门子的Mentor今天宣布，它将为基于Arm Found的eMRAM（嵌入式磁阻随机存取存储器）编译器IP提供独特的IC测试解决方案，该解决方案基于Samsung Foundry的28nm FDSOI工艺技术。新的eMRAM测试解决方案是Mentor与半导体IP全球领导者Arm的合作的结果，它基于两家公司之间的长期合作关系，为高级测试生态系统提供优化的硬件和软件解决方案。Mentor在与三星紧密合作，为多种高度创新的技术（例如eMRAM）提供创新的测试解决方案方面也有着长期的往绩。 

       与许多传统存储技术不同，eMRAM并非采用传统的硅电路制造，因此它需要用于IC测试和质量保证的新方法和技术。Mentor正在与Arm合作，以利用行业领先的Tessent®软件内置自测（BIST）可测试性设计（DFT）技术来测试正在开发中的下一代Arm®eMRAM编译器IP。

       三星设计支持团队项目负责人JaeSeung Choi表示：“汽车，人工智能和物联网等市场需要高密度和低功耗的高要求存储功能，而传统存储解决方案无法轻松提供这些功能。”电子产品。“嵌入式MRAM有望以更低的功耗提供更高的集成度，并且随着先进技术应用的需求稳步增长，这种类型的非易失性存储器开始引起人们的关注。”

        eMRAM在单个高耐久性设备中提供了非易失性闪存，从而提供了高速性能。但是，尽管有这些优点，但由于新物理的固有概率性质和不同的故障模式，eMRAM仍会带来新型的缺陷和测试挑战。

       为eMRAM技术引入的新故障机制完善DFT技术将需要内存供应商，代工厂和EDA供应商之间紧密合作。三星正在与Arm在测试芯片上进行合作，以利用实际的硅片结果来扩展Mentor提供的新Memory BIST功能。 

       Arm物理设计事业部市场营销高级总监Kiran Burli说：“嵌入式MRAM为基于消费者和工业市场用例的复杂性而扩展内存的客户带来了巨大的潜力。” 为了使eMRAM成为现有非易失性存储器选件的有效替代，它需要一种有效的测试解决方案。Arm很高兴与Mentor合作开发一个解决方案，该解决方案可以为eMRAM提供更高的测试覆盖率，从而使客户能够充分利用Arm eMRAM编译器IP的潜力。”

       Mentor and Arm正在开发的测试解决方案旨在通过结合备用资源和多位ECC逻辑来提高内存产量，其中包括扩展新的Memory BIST硬件和测试算法。此外，Mentor的内置自动修整功能有望帮助简化整个行业内eMRAM的主流采用。

       西门子业务部门Mentor的Tessent产品系列副总裁兼总经理Brady Benware说：“ Mentor的新内存修复方法有助于提高制造良率，并实现系统内存的确定性行为。” “ Mentor的eMRAM测试解决方案利用了Mentor经过行业验证的Tessent MemoryBIST产品，为SRAM和eMRAM提供了一套统一的存储器测试和修复IP。”

       有关Mentor高级Tessent内存测试解决方案产品组合的更多信息，请访问：https://www.mentor.com/products/silicon-yield/memory_test/

上一篇：Enflame利用Mentor的Tessent DFT解决方案进行针对神经网络培训的创新云AI芯片

下一篇：天空卫士移动安全解决方案